PCB熒光X射線膜厚檢測裝置ALEX
PCB熒光X射線膜厚檢測裝置ALEX
熒光X射線元素分析儀WFD-70,X射線熒光元素分析儀FD-04,X射線熒光元素分析儀FD-03,X射線熒光元素分析儀FD-02,熒光X射線膜厚檢測裝置H,HD,L,PCB
產品介紹
熒光X射線元素分析儀WFD-70
輕元素的高靈敏度測量
特征
配備新開發(fā)的不需要液氮(SDD)的檢測器,無需液氮。
配備單色器法激發(fā)源
雙曲面單色器法配備激發(fā)源,可以高靈敏度測量輕元素。
可以測量從 9F 到 92U 的各種測量元件。
X射線熒光元素分析儀FD-04
搭載全新混合光學系統(tǒng)
特征
可選擇的照射區(qū)域
污染物分析 (1 mmφ) 到大孔徑 (20 mmφ) 可以選擇,展示了高精度質量控制測量的能力。
自動進樣器還有兩種可互換類型:使用雜交小直徑樣品杯時可連續(xù)測量 12 次,使用大直徑 (50mmφ) 標準物質時可連續(xù)測量 6 次。
X射線熒光元素分析儀FD-03
從輕元素 (13Al) 到重元素 (92U) 的高靈敏度測量,操作簡單
特征
配備新開發(fā)的不需要液氮(SDD)的檢測器,無需液氮。
通過安裝用于從輕元素 (13Al) 到重元素 (92U) 的高靈敏度測量的
新光學系統(tǒng),靈敏度得到了極大提高。同時安裝了新開發(fā)的便于測量的軟件。
節(jié)省空間和節(jié)能設計
盡管有一個大樣品室,但該設備的主體足夠小,可以容納在 40 厘米見方的范圍內。功耗小于100W,生態(tài)設計。
X射線熒光元素分析儀FD-02
設計簡單,通用機器,但用途廣泛
特征
配備新開發(fā)的不需要液氮(SDD)的檢測器,無需液氮。
用于高靈敏度微區(qū)測量的新型光學系統(tǒng)
大大增加了準直器的強度。
節(jié)省空間和節(jié)能設計
盡管有一個大樣品室,但該設備的主體足夠小,可以容納在 35 厘米見方的范圍內。功耗小于100W,生態(tài)設計。
熒光X射線膜厚檢測裝置
特征
高測量精度和再現性
自動程序控制的高性能 X 射線管和高靈敏度檢測器大大減少了測量薄膜厚度的變化。
追求便利性
專用軟件和附帶的 PC獨立于主機??紤]到緊急情況下備份和數據組織的可操作性,是一款追求生產現場便利性的測量機。
500萬日元范圍內的合適售價
我們消除了所有浪費并模塊化了內部結構。已實現初始成本的顯著降低。維護也很出色,可以快速更換必要的部件。