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  • SEMILAB發(fā)射極薄層電阻測量裝置SHR-1000
    SEMILAB發(fā)射極薄層電阻測量裝置SHR-1000

    SEMILAB發(fā)射極薄層電阻測量裝置SHR-1000 壽命測定裝置PV-2000A,壽命測量儀WT-1200,WT-1200B,WT-1200A,4探針薄層電阻測量儀FPP-1000,發(fā)射極薄層電阻測量裝置SHR-1000,激光橢圓儀LE-103PV

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  • SEMILAB薄膜厚度和電阻率測量裝置WMT
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    錯位缺陷可視化裝置EnVision SEMILAB

    錯位缺陷可視化裝置EnVision SEMILAB 光致發(fā)光WT-2000PL,錯位缺陷可視化裝置EnVision,非接觸式遷移率測量LEI-1610系列,FAa lei-1610E100AM,LEI-1610E100R,LEI-1616AM,LEI-1618AM,LEI-1616RP,LEI-1618RP

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